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    環(huán)境試驗設備試驗標準:上海巨怡環(huán)測

    更新時間:2015-11-10      點擊次數:1536

    環(huán)境試驗設備試驗標準匯總

     ISTA PROJECT 2A 運輸規(guī)范-低于 45.36kg(100 磅) 之外銷運輸
     GB/T 4857.23—2003 包裝 運輸包裝件 隨機振動試驗方法
     GB/T 4857.7—92 ISO2247—1985 包裝 運輸包裝件 正弦定頻振動試驗方 法
     GB 18802.1—2002/IEC 61643—1:1998 低壓配電系統的電涌保護器(SPD) 性能要求和試驗方法
     振動試驗臺原理機構圖
     GB/T 2423.3—93 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Ca:恒定濕熱試驗
    方法
     GB/T 2423.4—93 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Db:交變濕熱試驗 方法
     GB 2423.18—85 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Kb:交變鹽霧試驗 方法(鹵化鈉溶液)
     GB 2423.20—81 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Kd:接觸點和連接 件的硫化氫試驗方法
     GB/T 2423.23—1995 電工電子產品基本環(huán)境實驗試驗 Q:密封
     GB/T 2423.24—1995 電工電子產品基本環(huán)境實驗 試驗 Sa:模擬地面上的太
    陽輻射
     GB/T 2423.5—1995 電工電子產品基本環(huán)境實驗 試驗 Ea 和導則:沖擊
     GB/T 2423.8—1995 電工電子產品基本環(huán)境實驗 試驗 Ed:自由跌落
     GB/T 2423.8—1995 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Z/AM:低溫/低氣
    壓綜合試驗
     GB/T 2423.27—81 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Z/AMD:低溫/低氣
    壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法
     GB/T 2423.26—92 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
     GB/T 2423.1—89 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 A:低溫試驗方法
     GB/T 2423.33—89 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 Kca:高濃度二氧 化硫試驗方法
     G85—98改良后鹽霧試驗的標準操作規(guī)程(美國材料試驗協會)
     聯邦快遞運輸標準
     QC/T 413 2002 汽車電器設備基本技術條件標準
     JIS Z2371:2000 鹽水噴霧試驗方法 日本工業(yè)標準
     圖層性能測試方法
     瓦楞紙箱 Corrugated box 相關設備
     溫度沖擊試驗標準的介紹和分析
     GB/T 2423.3—93 電工電子產品基本環(huán)境實驗 試驗 Ca:恒定濕熱試驗方法
     GB/T 2423.2—89 電工電子產品基本環(huán)境實驗規(guī)程 試驗 B:高溫試驗方法

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